非接觸探測係統-瑞銘機械
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非接觸探測係統
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非接觸探測係統

 詳情說明
  PrecitecLR
  最新推出的高精度光學測頭,能夠與HP-S-S2配合使用。該測頭能夠適應任何類型的表麵測量任務,光圈在90°±40°範圍方向可調。
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  HP-C-VE光學測頭
  HP-C-VE能夠安裝在測量機上,實現了大尺寸部件上麵微小特征的放大測量。
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  HP-L-10.6激光掃描測頭
  功能完善的交鑰匙方案,通過快速點雲采集,完成與CAD比較測量、自由曲麵檢測以及逆向工程等任務。
  HP-L-20.8激光掃描測頭
  自動實現光強的調整,為複雜形狀和各種材料的掃描提供了一流的方案。