掃描式探測係統-瑞銘機械
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掃描式探測係統
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掃描式探測係統

 詳情說明
  HP-S-X1掃描探測係統
  完善的係統配備,為通用的測量任務提供多種選擇。包括手動、自動測座、模塊化測頭、更換架、探針、加長杆等等。
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  HP-S-X3掃描探測係統
  緊湊、高性價比、超高精確度的三維固定式掃描測頭。
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  HP-S-X5掃描探測係統
  高承載、全三維、固定式掃描測頭,即使在攜帶超長加長杆的情況下也可保證達到極快的速度和極高的精度。增加X.wlkit選項,可支持長達800mm,重量600g的測針。