跟蹤式三維掃描儀TRACKSCAN-DUO-瑞銘機械
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跟蹤式三維掃描儀TRACKSCAN-DUO
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跟蹤式三維掃描儀TRACKSCAN-DUO

 詳情說明
  TRACKSCAN-DUO係統具備極大測量範圍和極高測量精度。在高難度的三維掃描項目中,TRACKSCAN-DUO是最頂尖三維測量解決方案,掃描過程快速簡單,掃描數據精度極高,得益於Metronor30年測量技術沉澱,TRACKSCAN-DUO便攜式三維測量係統具有極高的精度、最佳的掃描結果。